Centro de Microscopia y Microanalisis
JEOL modelo JSM 6460LV
CARACTERÍSTICAS DE LA MICROSCOPÍA ELECTRÓNICA DE BARRIDO
El Laboratorio de Microscopía Electrónica CEMMI / UEB brinda el servicio de Microscopía Electrónica de Barrido (Comúnmente denominado SEM por sus siglas en inglés o MEB en español). Este servicio se ofrece con el equipo marca JEOL modelo JSM 6460LV.
La microscopía electrónica de barrido es una técnica para observación de micro y nanoestructuras. Su principio consiste en la emisión de electrones desde un filamento de tungsteno o de hexaboruro de lantano. Este filamento se encuentra ubicado en la parte superior de la denominada torre o columna de vacío del equipo. Los electrones descienden por esa columna que debe estar a un alto vacío, para que el haz de electrones orientados por lentes electromagnéticos, reciba la menor interferencia posible antes de chocar con la muestra a analizar, la cual se encuentra en el interior de la cámara portamuestras. Después de que los electrones impactan la muestra, se generan una gran variedad de señales o emisión de partículas que son analizadas por los diferentes detectores con los que cuente el equipo.
DETECTORES DEL MEB
DETECTOR DE ELECTRONES RETRODISPERSADOS
Recibe y detecta los electrones de más alta energía que se desprendieron inicialmente del filamento y que han “rebotado” o se han desviado después de interactuar con los átomos de la muestra. Estos electrones brindan información principalmente de la densidad y composición de la muestra.
DETECTOR DE ELECTRONES SECUNDARIOS
Cuando los electrones emitidos por el filamento golpean y desplazan electrones de los elementos o compuestos existentes en la muestra, los ultimos salen disparados de la estructura atómica y son captados por este detector.
Como estos electrones poseen una menor energía que los retrodispersados, solo logran llegar al detector aquellos que se encuentran muy cerca de la superficie de la muestra, es por ello que brindan información de la morfología y topografía de la muestra.
DETECTOR EDS
Cuando un electrón es sacado de su orbita por los electrones emitidos, este espacio es ocupado por otros electrones del mismo átomo que se encuentran en niveles de energía mas externos y que en su desplazamiento a ocupar el espacio dejado por el electrón desplazado, liberan energía.
Los rayos “X” son uno de los tipos de energía que se liberan y que brinda información característica del tipo de elemento presente en la muestra, ya que la intensidad de energía liberada en los saltos electrónicos dentro de cada elemento es única y así esta técnica permite obtener un espectro característico de cada elemento presente detectado.